歡迎光臨東莞市環(huán)儀儀器科技有限公司
SATA/SSD高溫BIT老化柜可以提供SSD的BIT測試所需要的高溫老化環(huán)境，目的是為產(chǎn)品做潛在失效分析，因?yàn)樵陂L時間讀寫和高溫環(huán)境下，會加速芯片老化，可能導(dǎo)致故障提前出現(xiàn)。
BIT（Burn-In Test）測試就是使用BIT軟件對固態(tài)硬盤進(jìn)行循環(huán)寫入測試，再放入高溫箱中靜置。
