高壓蒸煮試驗(yàn)箱用于多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，測(cè)試其制品的耐壓性，氣密性。待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，從而判斷樣品的抗?jié)駸嵝阅堋?/p>

測(cè)試方法：

IEC 60068-2-66 (1994-6)環(huán)境試驗(yàn)。第 2 部分：試驗(yàn)方法-試驗(yàn) Cx；濕熱，穩(wěn)態(tài)（非飽和加壓蒸汽）。

IEC 60749 修正案1（1991-11）半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 5C 濕熱，穩(wěn)態(tài)高加速。

JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)(1988-6) No.22-110 測(cè)試方法 A110 高加速溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試 (HAST)。

EIAJ（日本電子工業(yè)協(xié)會(huì)）ED-4701（1992-2）（日本）半導(dǎo)體器件的環(huán)境和持續(xù)時(shí)間測(cè)試方法方法 B-123 不飽和蒸汽壓力測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)試原理：

1.PCT: 壓力鍋測(cè)試

通常所說(shuō)的PCT 測(cè)試是指100%相對(duì)濕度的飽和蒸汽測(cè)試。

2.HAST: 高加速壽命測(cè)試

通常是指相對(duì)濕度為85%的非飽和蒸汽測(cè)試。

結(jié)構(gòu)特征：

外箱：構(gòu)成試驗(yàn)箱的主體，提供結(jié)構(gòu)支撐和隔熱效果。

箱內(nèi)膽：設(shè)置于外箱底部，負(fù)責(zé)承載樣品并與試驗(yàn)環(huán)境直接接觸。

水箱：位于外箱和箱內(nèi)膽之間，提供必要的水源以維持試驗(yàn)環(huán)境中的濕度。

進(jìn)水口：與水箱連通，自動(dòng)化地控制水的補(bǔ)充。

控制面板：設(shè)置在外箱上，方便操作人員實(shí)時(shí)監(jiān)控和調(diào)整試驗(yàn)參數(shù)，包括溫度、濕度、壓力等。

如有高壓蒸煮試驗(yàn)箱的測(cè)試和選型疑問(wèn)，可以訪問(wèn)“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，咨詢相關(guān)技術(shù)人員。