GB/T 26225-2010是中國的國家標準，規(guī)定了移動存儲設(shè)備中的閃存盤（Flash Drive）的通用規(guī)范。

該標準主要針對閃存盤的設(shè)計、制造和使用進行規(guī)范，以確保閃存盤的質(zhì)量、性能和互操作性符合規(guī)范要求。

一、范圍：
本標準規(guī)定了閃存盤的術(shù)語和定義、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標志﹑包裝、運輸和貯存等相關(guān)內(nèi)容。
本標準適用于閃存盤(以下簡稱“產(chǎn)品”)，其他包含閃存盤功能模塊的設(shè)備也可參考。

二、試驗項目：
高低溫試驗、恒定濕熱試驗、振動試驗、包裝運輸?shù)湓囼?、碰撞試驗等?/p>

三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱、振動試驗臺、跌落試驗機等。

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五、試驗方法（部分）：

1. 碰撞試驗
按GB/T 2423.6-1995“試驗Eb”進行。受試樣品須進行初始檢測，安裝時要注意重力影響，按表5和表6規(guī)定值，在不工作條件下，分別對3個互相垂直軸線方向進行碰撞。試驗后進行最后檢測。

2. 跌落試驗
對受試樣品進行初始檢測，將運輸包裝件處于準備運輸狀態(tài)，按GB/T 2423.8-1995的規(guī)定進行預(yù)處理4 h。
a)將運輸包裝件按GB/T 2423.8-1995的要求和本標準表5的規(guī)定值進行跌落﹐任選四面﹐每面跌落一次。試驗后按產(chǎn)品標準的規(guī)定檢查包裝件的損壞情況，并對受試樣品進行最后檢測。
b)將不帶包裝的產(chǎn)品按GB/T 2423.8-1995的要求和本標準表6的規(guī)定值進行跌落試驗，每個面向下跌落兩次，6面共12次，試驗后按產(chǎn)品標準的規(guī)定檢查產(chǎn)品的損壞情況，并對受試樣品進行最后檢測，允許機殼有輕微開裂，功能檢查應(yīng)正常。

通過遵循GB/T 26225-2010標準，閃存盤的制造商和用戶可以對產(chǎn)品的質(zhì)量和性能進行評估和驗證，以確保其在實際使用中的穩(wěn)定性和可靠性。該標準對于促進閃存盤產(chǎn)品的標準化和互操作性，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性具有重要意義。