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LED燈珠溫度循環(huán)試驗(yàn)箱可以以5~15℃/min的溫變率，在溫度變化上做一連串的高、低溫循環(huán)測試，此試驗(yàn)LED產(chǎn)品并非真正模擬實(shí)際情況。其目的在施加應(yīng)力于試件上，加速試件之老化因子，使試件在環(huán)境因素下可能產(chǎn)生損害系統(tǒng)設(shè)備及零組件，以決定試件是否正確設(shè)計(jì)或制造。
技術(shù)參數(shù)：
試驗(yàn)失效原因：
產(chǎn)品之電性功能
潤滑劑變質(zhì)而失去潤滑作用
喪失機(jī)械強(qiáng)度，造成破裂、裂縫
材質(zhì)之變質(zhì)而引起化學(xué)作用
應(yīng)用范圍：
LED模塊/系統(tǒng)成品類產(chǎn)品環(huán)境仿真試驗(yàn)
LED模塊/系統(tǒng)成品類產(chǎn)品應(yīng)力壽命試驗(yàn)(Strife test)
LED/PCB/PCBA/焊點(diǎn)加速應(yīng)力試驗(yàn)(ALT/AST)
試驗(yàn)配套：
1.老化排線：排線采用耐高溫鐵氟龍線焊接而成。長3米，耐200度以上高溫長期老化實(shí)驗(yàn)，高耐燃、耐老化、耐高濕、抗強(qiáng)酸、強(qiáng)堿等，通過 UL 美標(biāo)認(rèn)證/SGS 環(huán)保/ROSH 環(huán)保認(rèn)證。
2.轉(zhuǎn)接頭：程控多通道LED老化電源專用轉(zhuǎn)接板，定制轉(zhuǎn)接電路板。
3.金手指：進(jìn)口耐高溫、高濕金手指插槽，壽命長，耐腐蝕。
4.老化板：針對不同的老化樣件，可以定制不同的老化接口載板，針對不同的老化樣件可提供專用的老化接口載板（也可將多種老化樣件接口設(shè)計(jì)在同一塊老化接口載板）。
如有LED燈珠溫度循環(huán)試驗(yàn)箱的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
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